Vyberte rok publikace: 1990 1991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 2004 2005 2006 2007 2008 2009 2010 2011 2012 2013 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023 2024 vše

Rok publikace: 1998

Citace článkuVšechny časopisyMultioborové časopisyBiologické časopisyChemické časopisyFyzikální časopisyLékařské časopisyMatematické časopisyČasopisy Věd o ZemiOstatní časopisy
n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.n. čl.n. cit.
1000x—99999x00x00x00x00x00x00x00x00x00x
500x—999x00x00x00x00x00x00x00x00x00x
200x—499x3920x1447x1268x1268x1268x1205x00x1205x00x
100x—199x3333x00x2218x1115x00x00x00x00x00x
50x—99x13846x00x3228x4269x3200x3173x00x2109x00x
20x—49x30875x00x11331x16493x12361x00x250x5145x126x
10x—19x34469x00x13184x15201x9123x229x112x00x227x
5x—9x30210x00x849x17117x857x216x323x16x00x
2x—4x3078x00x514x1539x823x14x615x12x12x
1x—1x99x00x11x33x22x00x44x00x11x
0x—0x180x00x20x100x50x00x10x10x00x
Celkem1703740x1447x461293x821505x481034x9427x17104x11467x556x

Fyzikální časopisy

Citace: 10x—19x
  1. Citováno 18x
    Jergel, M; Holy, V; Majkova, E; Luby, S; Senderak, R; Stock, HJ; Menke, D; Kleineberg, U; Heinzmann, U. X-ray scattering study of interface roughness correlation in Mo/Si and Ti/C multilayers for X-UV optics. Physica B. 253, 28-39, 12p, ISSN/eISSN: 0921-4526/1873-2135, (OCT 1998) ,WOS:000075457900003 Citováno: 18x
  2. Citováno 17x
    Zák, Z; Perutka, J; Havel, J; Císarová, I; Giester, G. Synthesis and crystal structures of two new cobalt 42-oxododecatungstates, [Co4Na(H2O)21][H(H2W12O42)].18H2O and [Co5(H2O)22][H2W12O42].12H2O. J. Alloy. Compd.. 281, 169-174, 6p, ISSN/eISSN: 0925-8388/, (DEC 18 1998) ,WOS:000077837900017 Citováno: 17x
  3. Citováno 15x
    Munzar, D; Dobrocka, E; Vavra, I; Kudela, R; Harvanka, M; Christensen, NE. Antiphasing mechanism of ordered Ga0.5In0.5P layers grown on GaAs (001). Phys. Rev. B. 57, 4642-4648, 7p, ISSN/eISSN: 1098-0121/1550-235X, (FEB 15 1998) ,WOS:000072228000066 Citováno: 15x
  4. Citováno 15x
    Holy, V; Darhuber, AA; Stangl, J; Bauer, G; Nutzel, J; Abstreiter, G. X-ray reflectivity investigations of the interface morphology in strained SiGe/Si multilayers. Semicond. Sci. Technol.. 13, 590-598, 9p, ISSN/eISSN: 0268-1242/, (JUN 1998) ,WOS:000074143200008 Citováno: 15x
  5. Citováno 13x
    Kapicka, V; Klima, M; Vaculik, R; Brablec, A; Slavicek, P; Strecha, M; Sicha, M. The high pressure plasma source for the surface treatment technology based on the torch discharge stabilized by working gas flow. Czech. J. Phys.. 48, 1161-1166, 6p, ISSN/eISSN: 0011-4626/, (OCT 1998) ,WOS:000076739500006 Citováno: 13x
  6. Citováno 12x
    Cermak, J; Stloukal, I; Ruzickova, J; Pokorna, A. Short-circuit diffusion in Ni-Al alloys. Intermetallics. 6, 21-28, 8p, ISSN/eISSN: 0966-9795/, ( 1998) ,WOS:000071523600004 Citováno: 12x
  7. Citováno 12x
    Mikulik, P; Baumbach, T. X-ray reflection by multilayer surface gratings. Physica B. 248, 381-386, 6p, ISSN/eISSN: 0921-4526/, (JUN 1 1998) ,WOS:000074740900067 Citováno: 12x
  8. Citováno 11x
    Humlicek, J. Infrared ellipsometry of LiF. Thin Solid Films. 313, 687-691, 5p, ISSN/eISSN: 0040-6090/, (FEB 1998) ,WOS:000073761700125 Citováno: 11x
  9. Citováno 10x
    Franta, D; Ohlidal, I; Munzar, D. Parameterisation of the model of dispersion dependences of solid state optical constants. Acta Phys. Slovaca. 48, 451-458, 8p, ISSN/eISSN: 0323-0465/, (AUG 1998) ,WOS:000075856700005 Citováno: 10x
Staženo z wos: 31. 5. 2024 23:46:50