RNDr. Jiří Buršík, DSc.

2004

• Modelling and Experimental Study of Phase Equilibria in Ni-Al-Cr-Ti and Ni-Al-Cr-Co Systems

  BROŽ Pavel BURŠÍK Jiří PICHA Radim ŠIMEČEK Jan

  Článek ve sborníku

  CALPHAD XXXIII, Program&Abstracts, rok: 2004

• Phase equilibria in the Ni-Al-Cr-Ti system at 1000 and 1100 C

  PICHA Radim BROŽ Pavel BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Alloys and Compounds, rok: 2004, ročník: 378, vydání: 1-2

• Phase Equilibria in the Ni-Al-W System

  BURŠÍK Jiří BROŽ Pavel PICHA Radim

  Článek ve sborníku

  TOFA 2004, Book of Abstracts, Program, rok: 2004

• Plasma treated polymer surfaces studied by SEM and AFM

  BURŠÍK Jiří SŤAHEL Pavel ŠÍRA Martin BURŠÍKOVÁ Vilma

  Článek ve sborníku

  Vrstvy a povlaky 2004, rok: 2004

• Study of mechanical properties of nanocomposite multilayer coatings

  BURŠÍKOVÁ Vilma BURŠÍK Jiří SOBOTA Jaroslav

  Článek ve sborníku

  Vrstvy a povlaky 2004, rok: 2004

• Study of the Fracture of Coating/Substrate Systems

  BURŠÍKOVÁ Vilma BURŠÍK Jiří NAVRÁTIL Vladislav

  Článek v odborném periodiku

  J. Engineering MECHANICS, rok: 2004, ročník: 11, vydání: 5

2003

• Effect of the Discharge Conditions on the Mechanical Properties of the Plasma Deposited DLC:SiOx Films

  BURŠÍKOVÁ Vilma DVOŘÁK Pavel ZAJÍČKOVÁ Lenka KLAPETEK Petr BURŠÍK Jiří JANČA Jan

  Článek ve sborníku

  Proceedings of SAPP XIV, rok: 2003

• Hard carbon films: Deposition and diagnostics

  FRGALA Zdeněk KUDRLE Vít JANČA Jan MEŠKO Marcel ELIÁŠ Marek BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: vol. 53, vydání: No. 5

• Mechanical Properties of Multilayer Coatings on Polycarbonates Prepared by PECVD

  BURŠÍKOVÁ Vilma ZAJÍČKOVÁ Lenka BURŠÍK Jiří JANČA Jan

  Článek ve sborníku

  16th International Sympozium on Plasma Chemistry, rok: 2003

• Raman bands in microwave plasma assisted chemical vapour deposited films

  KADLEČÍKOVÁ Magdaléna BREZA Juraj VESELÝ Marián FRGALA Zdeněk KUDRLE Vít JANČA Jan JANÍK Ján BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Microelectronics Journal, rok: 2003, ročník: 2003, vydání: 34