prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2003

• Expression of the optical constants of chalcogenide thin films using the new parameterization dispersion model

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan FRUMAR Miloslav JEDELSKÝ Jaroslav

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2003, ročník: 212-213, vydání: 1

• Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry

  OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav KLAPETEK Petr ČUDEK Vladimír JÁKL Miloš

  Článek v odborném periodiku

  Proceedings of SPIE, rok: 2003, ročník: 5182, vydání: 2

• Mikroskopie magnetické síly: Aplikace při studiu pevných disků

  ŠILER Martin OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Československý časopis pro fyziku, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 2

• New Dispersion Model of the Optical Constants of the DLC Films

  FRANTA Daniel ZAJÍČKOVÁ Lenka BURŠÍKOVÁ Vilma OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 5

• New Method for the Complete Optical Analysis of Thin Films Nonuniform in Optical Parameters

  OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr JÁKL Miloš ČUDEK Vladimír ELIÁŠ Marek

  Článek v odborném periodiku

  Japanese Journal of Applied Physics, rok: 2003, ročník: 42, vydání: 7B

• Optical constants of ZnTe and ZnSe epitaxial thin films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2003, ročník: 53, vydání: 2

• Optical characterization of ZnSe thin films

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

  Článek ve sborníku

  19th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Quality of Life, rok: 2003

• Optical properties of diamond-like carbon films containing SiOx

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan BURŠÍKOVÁ Vilma ZAJÍČKOVÁ Lenka

  Článek v odborném periodiku

  Diamond and Related Materials, rok: 2003, ročník: 12, vydání: 9

• Srovnání snímků NSOM a AFM při studiu vybraných objektů

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Československý časopis pro fyziku, rok: 2003, ročník: 47, vydání: 6-7s

• Theoretical analysis of the atomic force microscopy characterization of columnar thin films

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Ultramicroscopy, rok: 2003, ročník: 94, vydání: 1